KFM
KFM 共聚焦显微镜是一种理想的传感器，可在几秒钟内对微观表面进行非接触式测量。它能可靠地捕捉最微小的细节，直至物理极限。各种精选的高质量镜头使其应用范围更加广泛。全角测量方法可同时捕捉表面形貌和全焦亮度图像。
工作原理：
使用旋转圆盘进行平面共焦检测。由于共焦光束路径的深度分辨效应，只对焦点附近的部分图像进行成像和分析（细节）。真实峰值检测算法可从图像数据中确定剖面高度和全焦表面图像。
特殊优势：
- 基于显微镜的技术，可捕捉最小的细节，直至物理极限
- 基于区域的测量方法，可在几秒钟内得出结果
- 采用 LED 技术，免维护且经久耐用
- 动态范围明显大于干涉测量法
- 高质量镜头
- 低功耗
- 可集成到 OEM 装置中
应用领域：
- 测量地形、高度、形状和位置
- 确定粗糙度、面积或体积
- 通过平行获取全焦表面图像实现可视化
- 半导体、电子、电气工程
- 光学、材料研究、机械工程
- 医疗技术
- 高灵敏度、软介质或液体介质的测量
- 对光学要求较高的测量对象进行测量
